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Grasserbauer, M: Angewandte Oberflächenanalyse ...
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Erscheinungsdatum: 06.12.2011, Medium: Taschenbuch, Einband: Kartoniert / Broschiert, Titel: Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie, Auflage: Softcover reprint of the original 1st ed. 1986, Autor: Dudek, H. J. // Ebel, Maria F. // Grasserbauer, M., Verlag: Springer Berlin Heidelberg // Springer Berlin, Sprache: Deutsch, Schlagworte: Anorganische Chemie // Physikalische Chemie, Rubrik: Theoretische Chemie, Seiten: 316, Informationen: Paperback, Gewicht: 548 gr, Verkäufer: averdo

Anbieter: averdo
Stand: 04.06.2020
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Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie ab 74.99 € als Taschenbuch: Softcover reprint of the original 1st ed. 1986. Aus dem Bereich: Bücher, Wissenschaft, Chemie,

Anbieter: hugendubel
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Lasertechnik
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Dieses Werk wendet sich vor allem an Studierende der Ingenieurwissenschaften und anderer technik-naher Studiengänge an Hochschulen für angewandte Wissenschaften. Anschaulich und anwendungsorientiert vermittelt dieses Lehrbuch fundierte Kenntnisse über Laser, angefangen bei den physikalischen Grundlagen der Quantenoptik über den prinzipiellen Aufbau von Laserresonatoren bis hin zur praktischen Realisierung der in Industrie und Forschung derzeit verwendeten Lasertypen: Absorption und Emission von Strahlung Linienverbreiterung und Kohärenzlänge Stimulierte Emission, Drei- und Vier-Niveau-Systeme Laserlichterzeugung bei Halbleitern Axiale und transversale Moden Güteschaltung und Modenkopplung Frequenzverdopplung Festkörperlaser (u.a. Nd-YAG-Laser, Yb-YAG-Laser) Pumpanordnungen von Festkörperlasern (u.a. Faser- und Scheibenlaser) Gaslaser (CO2-Laser, Ionenlaser, Helium-Neon-Laser, Excimer-Laser) Halbleiterlaser (Einzelemitter, Laserbarren und Laserstapel, Strahlbündelung) Metalldampflaser, Farbstofflaser, Freier-Elektronen-Laser Beispiele von Anwendungen (u.a. Laserschneiden, Laserschweißen, Holographie, Doppler-Anemometrie) Lasersicherheit Das Buch enthält zahlreiche farbige Bilder und graphische Darstellungen, Aufgaben zur Quantenoptik und zu axialen und transversalen Moden mit ausführlichen Lösungen, ein Englisch-Lexikon der Fachbegriffe und ein Verzeichnis weiterführender Literatur.

Anbieter: buecher
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Lasertechnik
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Dieses Werk wendet sich vor allem an Studierende der Ingenieurwissenschaften und anderer technik-naher Studiengänge an Hochschulen für angewandte Wissenschaften. Anschaulich und anwendungsorientiert vermittelt dieses Lehrbuch fundierte Kenntnisse über Laser, angefangen bei den physikalischen Grundlagen der Quantenoptik über den prinzipiellen Aufbau von Laserresonatoren bis hin zur praktischen Realisierung der in Industrie und Forschung derzeit verwendeten Lasertypen: Absorption und Emission von Strahlung Linienverbreiterung und Kohärenzlänge Stimulierte Emission, Drei- und Vier-Niveau-Systeme Laserlichterzeugung bei Halbleitern Axiale und transversale Moden Güteschaltung und Modenkopplung Frequenzverdopplung Festkörperlaser (u.a. Nd-YAG-Laser, Yb-YAG-Laser) Pumpanordnungen von Festkörperlasern (u.a. Faser- und Scheibenlaser) Gaslaser (CO2-Laser, Ionenlaser, Helium-Neon-Laser, Excimer-Laser) Halbleiterlaser (Einzelemitter, Laserbarren und Laserstapel, Strahlbündelung) Metalldampflaser, Farbstofflaser, Freier-Elektronen-Laser Beispiele von Anwendungen (u.a. Laserschneiden, Laserschweißen, Holographie, Doppler-Anemometrie) Lasersicherheit Das Buch enthält zahlreiche farbige Bilder und graphische Darstellungen, Aufgaben zur Quantenoptik und zu axialen und transversalen Moden mit ausführlichen Lösungen, ein Englisch-Lexikon der Fachbegriffe und ein Verzeichnis weiterführender Literatur.

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Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie ab 74.99 EURO Softcover reprint of the original 1st ed. 1986

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Lasertechnik
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Dieses Werk wendet sich vor allem an Studierende der Ingenieurwissenschaften und anderer technik-naher Studiengänge an Hochschulen für angewandte Wissenschaften. Anschaulich und anwendungsorientiert vermittelt dieses Lehrbuch fundierte Kenntnisse über Laser, angefangen bei den physikalischen Grundlagen der Quantenoptik über den prinzipiellen Aufbau von Laserresonatoren bis hin zur praktischen Realisierung der in Industrie und Forschung derzeit verwendeten Lasertypen: Absorption und Emission von Strahlung Linienverbreiterung und Kohärenzlänge Stimulierte Emission, Drei- und Vier-Niveau-Systeme Laserlichterzeugung bei Halbleitern Axiale und transversale Moden Güteschaltung und Modenkopplung Frequenzverdopplung Festkörperlaser (u.a. Nd-YAG-Laser, Yb-YAG-Laser) Pumpanordnungen von Festkörperlasern (u.a. Faser- und Scheibenlaser) Gaslaser (CO2-Laser, Ionenlaser, Helium-Neon-Laser, Excimer-Laser) Halbleiterlaser (Einzelemitter, Laserbarren und Laserstapel, Strahlbündelung) Metalldampflaser, Farbstofflaser, Freier-Elektronen-Laser Beispiele von Anwendungen (u.a. Laserschneiden, Laserschweißen, Holographie, Doppler-Anemometrie) Lasersicherheit Das Buch enthält zahlreiche farbige Bilder und graphische Darstellungen, Aufgaben zur Quantenoptik und zu axialen und transversalen Moden mit ausführlichen Lösungen, ein Englisch-Lexikon der Fachbegriffe und ein Verzeichnis weiterführender Literatur.

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Physik des Ultraschalls
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Unter Ultraschall versteht man im allgemeinen verschiedene elastische Wellen lliit Frequenzen oberhalb der Horsehwelle des menschlichen Ohres, d. h. oberhalb 11. . . 16 kHz. Die heutige Ultraschalltechnik gestattet es, Ultraschallsehwingungen mit Frequenzen 10 bis zu 10 bis 1011 Hz und mehr zu erzeugen und nachzuweisen. Das heiDt, es sind Frequenzen realisierbar, die sich dem Frequenzbereich des infraroten Lichtes nahern. Bei so hohen Frequenzen wird die Lange der Ultraschallwellen mit den zwischen molekularen Abmessungen vergleichbar. Aber selbst bei den niedrigen Ultra8chall frequenzen wird die Ausbreitung von Ultraschallwellen in verschiedenen Medien empfindlich gegenuber Besonderheiten des Aufbaus der Materie auf molekularem, atomarem, Elektronen- und sogar Kernniveau. Infolgedessen haben 8ich Ultraschall methoden als sehr informatives Mittel zur Strukturuntersuchung und zur Verfolgnng physikalischer Prozesse in Medien erwiesen. Auf del' anderen Seite fUhrten die Besonderheiten del' Ultraschallausstrahlung zn einer breiten Ausnutzung des Ultraschalls in unterschiedlichsten Bereichen del' Volks wirtschaft. So wird del' Ultraschall in del' Unterwasserortung, in del' Defektoskopie unterschiedlichster Stoffe und Konstruktionen, in del' Medizin - sowohl in del' Diagno stik als auch in del' Wil'kung auf varschiedene Organa des mensehliehen Karpel's -, zUl' Besehleunigung odeI' Stimulierung verschiedener technologischer Prozesse, in elektro nischen und optischen Anlagen usw. genutzt. AIle diese Anwendungen basieren auf Untersuchungen del' physikalischen Prozesse, die in Ultraschallfeldern in den nnter schiedlichsten Medien VOl' sich gehen. Die Resultate solcher Untersuchungen, Zll denen sowohl rein wissenschaftliche Probleme als auch angewandte Aufgaben gehoren, bilden ein breites 'V"issensgebiet, das man illl allgemeinen "physikalische AkllStik" odeI' "physikalische Ultraakustik" nennt.

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Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär...
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In Anbetracht der rasch wachsenden Bedeutung der Oberflächenanalytik schien es angebracht, die drei Methoden, welche bereits in einem sehr hohen Maße für die industrielle und forschungsbezogene Routineanalytik eingesetzt und häufig mit einander kombiniert werden, nämlich SIMS, AES und XPS in einer Monographie darzustellen. Um die notwendige Tiefe der Darstellung zu erreichen, wurde dieses Buch nicht von einem Autor verfaßt, sondern greift auf drei verschiedene Autoren mit unter schiedlichen Spezialkenntnissen zurück. Dies garantiert dem Leser die direkte Ver mittlung von theoretischem und experimentellem Wissen auf entsprechendem Niveau für die jeweiligen methodischen Teilgebiete. Anderseits ergeben sich dadurch gewisse Unterschiede in der Darstellungsweise und Symbolik zwischen den drei Kapiteln. Dies ist aber sicherlich von untergeordneter Bedeutung im Vergleich zu der durch Experten zu vermittelnden inhaltlichen Substanz. Die einzelnen Kapitel behandeln SIMS, AES und XPS hinsichtlich methodischem Prinzip, physikalischen Grundlagen, Gerätetechnik, amilytischem Informationsgehalt, qualitativer und quantitativer Analyse und praktischem Einsatz für aktuelle Frage stellungen der Oberflächenanalyse von Festkörpern - insbesondere aus dem Bereich der Werkstoffentwicklung. Die in den einzelnen Kapiteln angeführten Ergebnisse wurden im übrigen mit Hochleistungsgeräten der neuesten Generation erhalten, so daß der derzeitig aktuelle Leistungsstand der- Methodik dargestellt wird. Der Leser soll damit nicht nur eine Methode im Detail kennenlernen können, sondern auch durch die Anführung zahlreicher für das experimentelle Arbeiten wichtiger Daten einen Einstieg in den praktischen Einsatz der Methoden erhalten.

Anbieter: Dodax
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Strahlbasierte Vermessung und Korrektur von Mag...
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DELTA ist eine Synchrotronstrahlungsquelle an der TU Dortmund. In ihr werden Elektronen beschleunigt und mit Hilfe von Magnetfeldern für mehrere Stunden gespeichert. Da die Aufstellungspositionen der dabei eingesetzten Fokussierungsmagnete teilweise erheblich von den Designpositionen abweichen, müssen zusätzliche Korrekturmagnete eingesetzt werden. Um deren Einsatz zu minimieren, ist eine Messung und Korrektur der Positionen der Fokussierungsmagnete erforderlich. Im ersten Teil dieser Arbeit werden die notwendigen Grundlagen der Beschleunigerphysik zusammengefasst. Anschließend wird eine neue Methode beschrieben, um relative Fehlaufstellungen der Fokussierungsmagnete strahlbasiert zu messen. Damit ist eine iterative Positionskorrektur mit einer Genauigkeit von besser als 0,1 mm möglich. Die Messung ist genauer als die bisher angewandte geodätische Methode und zudem während des Strahlbetriebes durchführbar. Als Voraussetzung für die neue Methode werden umfangreiche Erweiterungen des Speicherringmodells erläutert. Der letzte Teil befasst sich mit der Einführung eines Positionsüberwachungssystems für die Strahllagemonitore, welches im Anschluss an die Positionskorrektur benötigt wird.

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